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messen werden, so wird auf dem rechteckigen, verhältnismäßig großen Objekttische eine dem Mikroskope beigegebene Grundplatte befestigt. — Eine zu messende 9X12 Platte dagegen, etwa ein Spektrum, wird auf dem Rahmen B mittels der Federn oder besser mit etwas Klebwachs befestigt. Der ganze Rahmen ist in Richtung seiner

Schmalseite, also senkrecht zur Bewegung des Meß-Schlittens von Hand verschiebbar und festklemmbar; so kann man, wenn z. B. eine Serie von Absorptionsspektren auf eine einzige Platte aufgenommen ist, mit Leichtigkeit eine und dieselbe Spektralliniengruppe in allen Spektren nacheinander unter dem ruhenden Mikroskope vorbeiführen, um, falls mit dem rotierenden Sektor Doppelspektra aufgenommen waren, die Stellen gleicher Schwärzung festzulegen und auf die Wellenlängenteilung zu beziehen.

Will man dagegen eine Spektrum platte mit einer anderen vergleichen, so werden beide mit der Schichtseite aufeinander gelegt. Die Vergrößerung des Mikroskops ist so bemessen, daß man ohne störende Parallaxe die Linien beider Platten hinsichtlich ihrer Stärke vergleichen und identifizieren kann; dagegen ist es unzulässig, von einer Platte auf die andere zu interpolieren. Bildet dieVergleichung zweier getrennten Spektrumplatten die Regel, wie bei der Spektralanalyse in einem metallurgischen Betriebe, so benutzt man den neuen Rahmen V, von dem jedem Vergleichsmikroskope soviel Stück beigegeben werden als bestellt werden.

Von den in einem Betriebe immer wiederkehrenden Bestandteilen der Legierungen des Betriebes fertigt man sich prozentisch abgestufte Spektra an, die so schmal geschnitten werden, daß jedes in einen Rahmen paßt; jeder Glasstreifen wird mit wenig Klebwachs mit der Schichtseite nach oben in seinen Rahmen gedrückt, der mit dem Symbol des Elementes bezeichnet wird. Nun legt man den Rahmen mit seinem Spektrum in die Aussparung des Objekttisches ein. Darauf befestigt man die Platte mit dem Spektrum der Probe, die Schichtseite nach unten, so auf dem Objekttische, daß gleichnamige Zahlen der Wellenlängenteilung sich nach Augenmaß gegenüberstehen und sieht erst jetzt in das Mikroskop. Mit einer kleinen Feinbewegungsschraube stellt man nun ein Paar gleiche Striche der Wellenlängenteilung (z. B. die Striche für Ä—225 fxfx) auf den senkrechten Strich des Fadenkreuzes und die Spektra beider Platten sind an dieser Stelle zueinander justiert.

Dann prüft man die gegenseitige Lage beider Spektren, indem man mit dem Mikroskop in einen anderen Spektralbereich übergeht, in .diesem und verbessert, wenn nötig, die Höhenlage.

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Fig. 30. Das Vergleichs-Mikroskop für Spektra Modell B, für Platten 13X18 cm.

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